XDXD: End-to-end crystal structure determination with low resolution X-ray diffraction

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zhao, Jiale, Liu, Cong, Zhang, Yuxuan, Gong, Chengyue, Zhang, Zhenyi, Jin, Shifeng, Liu, Zhenyu
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Artificial Intelligence Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2510.17936