Universal loss and gain characterization inside photonic integrated circuits

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chen, Haoran, Liu, Ruxuan, Koehler, Gedalia Y., Tabatabaei, Fatemehsadat, Guo, Xiangwen, Sun, Shuman, Yang, Zijiao, Wang, Beichen, Beling, Andreas, Yi, Xu
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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