Robust Material Properties in Epitaxial In$_2$Te$_3$ Thin Films Across Varying Thicknesses

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Buchta, Maximilian, Hoff, Felix, Bothe, Lucas, Penner, Niklas, Ringkamp, Christoph, Schmidt, Thomas, Veslin, Timo, Mak, Ka Lei, Frank, Jonathan, Kim, Dasol, Wuttig, Matthias
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2510.18449