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Robust Material Properties in Epitaxial In$_2$Te$_3$ Thin Films Across Varying Thicknesses

Fuente: arXiv

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Buchta, Maximilian, Hoff, Felix, Bothe, Lucas, Penner, Niklas, Ringkamp, Christoph, Schmidt, Thomas, Veslin, Timo, Mak, Ka Lei, Frank, Jonathan, Kim, Dasol, Wuttig, Matthias
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2025
Soggetti:	Materials Science
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