Is Your Prompt Poisoning Code? Defect Induction Rates and Security Mitigation Strategies

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Wang, Bin, Zhong, YiLu, Wan, MiDi, Yu, WenJie, Ouyang, YuanBing, Huang, Yenan, Li, Hui
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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