Unveiling the delicate "hidden" interface conditions in WS2 flakes by advanced atomic force microscopy

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Geng, Yanyan, Li, Chang, Mi, Shuo, Wang, Manyu, Han, Xinen, Hu, Huiji, Wang, Yunzhen, You, Haojie, Meng, Shumin, Wu, Hanxiang, Guo, Jianfeng, Zhu, Shiyu, Li, Yanjun, Sugawara, Yasuhiro, Hussain, Sabir, Pang, Fei, Xu, Rui, Cheng, Zhihai
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science
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https://arxiv.org/abs/2510.23139