Unveiling the delicate "hidden" interface conditions in WS2 flakes by advanced atomic force microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Geng, Yanyan, Li, Chang, Mi, Shuo, Wang, Manyu, Han, Xinen, Hu, Huiji, Wang, Yunzhen, You, Haojie, Meng, Shumin, Wu, Hanxiang, Guo, Jianfeng, Zhu, Shiyu, Li, Yanjun, Sugawara, Yasuhiro, Hussain, Sabir, Pang, Fei, Xu, Rui, Cheng, Zhihai
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Descripción
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