Atomic-Scale Roughness of Freestanding Oxide Membranes Revealed by Electron Ptychography

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yuan, Huaicheng, Liu, Yu-Chen, Wang, Li-Shu, Dong, Zehao, Yang, Jan-Chi, Chen, Zhen
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science Mesoscale and Nanoscale Physics Strongly Correlated Electrons
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