Atomic-Scale Roughness of Freestanding Oxide Membranes Revealed by Electron Ptychography

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Yuan, Huaicheng, Liu, Yu-Chen, Wang, Li-Shu, Dong, Zehao, Yang, Jan-Chi, Chen, Zhen
Format: Preprint
Publié: 2025
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