Testing Electromagnetic Memory via Acceleration-Induced Phase Imprints in Superconductors

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Sheng, Jie, Yanagida, Tsutomu T., Gao, Bo, Ding, Hong
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
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