Single-particle detection of a semiconductor-to-metal transition by scanning dielectric microscopy

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Millan-Solsona, Ruben, Ruiz-Torres, José A., Moya, Carlos, Rodríguez, Arantxa Fraile, Figueroa, Adriana I., Gomila, Gabriel, Labarta, Amílcar, Batlle, Xavier
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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