Critical Disconnect Between Structural and Electronic Recovery in Amorphous GaAs during Recrystallization

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Kennedy, Ellis Rae, Jones, Adric, Wang, Yongqiang, Pena, Miguel, Kim, Hyosim, Song, Chengyu, Selim, Farida, Uberuaga, Blas P., Greer, Samuel
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science
Online-Zugang:	Acceder al recurso
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Online

https://arxiv.org/abs/2511.03010