Radiation damage study of a p-type silicon sensor under extreme particle fluence

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Yadav, Arun Kumar, Muhuri, Sanjib, Sikdar, Anup Kumar, Choudhury, Subikash, Mukhopadhyay, Sourav, Saini, Jogender, Abhangi, Mitul, Kumar, Ratnesh, Vala, Sudhirsinh, Ahammed, Zubayer
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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