How Small Can You Go? Compact Language Models for On-Device Critical Error Detection in Machine Translation

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Chopra, Muskaan, Sparrenberg, Lorenz, Khanna, Sarthak, Sifa, Rafet
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computation and Language Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2511.09748