Variable-temperature attenuator calibration method for on-wafer microwave noise characterization of low-noise amplifiers

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Ardizzi, Anthony J., Zhang, Jiayin, Babenko, Akim A., Cleary, Kieran A., Minnich, Austin J.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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