Effect of substrate miscut angle on critical thickness, structural and electronic properties of MBE-grown NbN films on c-plane sapphire

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ithepalli, Anand, Vashishtha, Saumya, Pieczulewski, Naomi, Liu, Qiao, Rajapurohita, Amit Rohan, Barone, Matthew, Schlom, Darrell, Muller, David A., Xing, Huili Grace, Jena, Debdeep
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Superconductivity Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2511.13917