Effect of substrate miscut angle on critical thickness, structural and electronic properties of MBE-grown NbN films on c-plane sapphire

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Ithepalli, Anand, Vashishtha, Saumya, Pieczulewski, Naomi, Liu, Qiao, Rajapurohita, Amit Rohan, Barone, Matthew, Schlom, Darrell, Muller, David A., Xing, Huili Grace, Jena, Debdeep
Format: Preprint
Publié: 2025
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