Discovering Spatial Patterns of Readmission Risk Using a Bayesian Competing Risks Model with Spatially Varying Coefficients

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Shen, Yueming, Pean, Christian, Dunson, David, Berchuck, Samuel
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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