Deep-Cryogenic Modeling of 22-nm FDSOI MOSFETs based on BSIM-IMG

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Dutta, Debargha, Ture, Kerim, Olivieri, Fabio, Gomez-Saiz, Alberto, Noah, Grayson M.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2511.22297