Statistical analysis and correction of the pile-up effect in MAPMT single photoelectron counting with the SPACIROC-3 ASIC: application to the Mini-EUSO experiment

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: M'sihid, Enzio, Parizot, Etienne, Battisti, Matteo, Blin, Sylvie
Format: Preprint
Publié: 2025
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