Accurate Modeling of Gate Leakage Currents in SiC Power MOSFETs

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Feng, Ang, Karl, Alexander, Waldhör, Dominic, Avramenko, Marina, Moens, Peter, Grasser, Tibor
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2512.02604