Asymptotic Behavior of Rupture Solutions for the Elliptic MEMS Equation with Hénon-Type and External Pressure Terms

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Li, Yunxiao, Zhang, Yanyan
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Analysis of PDEs 35J75, 35J61, 35C20, 35B40, 74K15, 74G70
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2512.05743