Towards Reliable Test-Time Adaptation: Style Invariance as a Correctness Likelihood

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Nam, Gilhyun, Kim, Taewon, Jeong, Joonhyun, Yang, Eunho
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Machine Learning Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2512.07390