Refining Visual Artifacts in Diffusion Models via Explainable AI-based Flaw Activation Maps

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Lee, Seoyeon, Yu, Gwangyeol, Kim, Chaewon, Park, Jonghyuk
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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https://arxiv.org/abs/2512.08774