Electrical Characterization of High-k (k>115) Crystalline SrTiO3 (STO) thin film integration with GaN with Nanomembrane Transfer Process
Fuente:
arXiv
Guardado en:
| Autores principales: | , , , , |
|---|---|
| Formato: | Preprint |
| Publicado: |
2025
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| Materias: | |
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