Electrical Characterization of High-k (k>115) Crystalline SrTiO3 (STO) thin film integration with GaN with Nanomembrane Transfer Process
Fuente:
arXiv
Salvato in:
| Autori principali: | , , , , |
|---|---|
| Natura: | Preprint |
| Pubblicazione: |
2025
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Lascia un commento!