Comparison of time-resolved photoluminescence and deep-level transient spectroscopy defect evaluations in an InAs nBn detector subjected to in-situ and ex-situ 63 MeV proton irradiation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Carrasco, Rigo A., Hains, Christopher P., Gajowski, Nathan, Newell, Alexander T., Logan, Julie V., Alsaad, Zinah M., Webster, Preston T., Morath, Christian P., Maestas, Diana, Muhowski, Aaron J., Hawkins, Samuel D., Anderson, Evan M.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2512.09837