In situ Study of p-NiO Film Quality at High Temperatures up to 1100 deg C

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Ellis, Hunter, Duersch, Bobby G., Li, Botong, Rahaman, Imteaz, Pierce, Jim, Scarpulla, Michael A., Fu, Kai
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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