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Influence of Radiation and AC Coupling on Time Performance of Analog Pixels Test Structures in 65 nm CMOS technology

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Rinella, Gianluca Aglieri, Aglietta, Luca, Antonelli, Matias, Barile, Francesco, Benotto, Franco, Beole, Stefania Maria, Botta, Elena, Bruno, Giuseppe Eugenio, Colella, Domenico, Colelli, Angelo, Contin, Giacomo, De Robertis, Giuseppe, Dumitrache, Floarea, Elia, Domenico, Ferrero, Chiara, Fransen, Martin, Grelli, Alessandro, Hillemanns, Hartmut, Hobus, Isis, Kluge, Alex, Kumar, Shyam, Lemoine, Corentin, Licciulli, Francesco, Lim, Bong-Hwi, Loddo, Flavio, Bilo, Esther Mwetaminwa M, Mager, Magnus, Marras, Davide, Martinengo, Paolo, Pastore, Cosimo, Patra, Rajendra Nath, Perciballi, Stefania, Piro, Francesco, Prino, Francesco, Ramello, Luciano, Reidt, Felix, Russo, Roberto, Sarritzu, Valerio, Savino, Umberto, Senyukov, Serhiy, Sitta, Mario, Snoeys, Walter, Sonneveld, Jory, Suljic, Miljenko, Triloki, Triloki, Usai, Gianluca, Wennlof, Haakan
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Instrumentation and Detectors
Applied Physics
Acceso en línea:
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