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Nucleation suppression by charge screening on grain boundaries: a kinetic model for bulk imprint in polycrystalline ferroelectric thin films

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Tian, Huanhuan, Yang, Jianguo, Liu, Ming
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science
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