Probing formation and epitaxy of ultrathin Titanium Silicide using low and medium energy ion scattering

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Wolf, Philipp M., Pitthan, Eduardo, Zhang, Zhen, Tran, Tuan T., Holeňák, Radek, Primetzhofer, Daniel
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2512.16479