Temperature dependence of the long-term annealing behavior of neutron irradiated diodes from 8-inch p-type silicon wafers

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Diehl, Leena, Kaluzinska, Oliwia, Mühlnikel, Marie, Andersson, Max, Gerassyova, Natalya, Amer, Jenan, Sicking, Eva, Groner, Dana, Kieseler, Jan, Defranchis, Matteo
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Instrumentation and Detectors High Energy Physics - Experiment
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2512.16643