Liu, J., Teng, Y., Chen, Y., Wang, Y., Luo, C., Yin, J., . . . Shi, F. (2025). Quantum Noise Spectroscopy of Nanoscale Charge Defects in Silicon Carbide at Room Temperature.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Liu, Jinpeng, et al. Quantum Noise Spectroscopy of Nanoscale Charge Defects in Silicon Carbide at Room Temperature. 2025.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Liu, Jinpeng, et al. Quantum Noise Spectroscopy of Nanoscale Charge Defects in Silicon Carbide at Room Temperature. 2025.
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