Analysis of the Optical Properties and Electronic Structure of Semiconductors of the Cu2NiXS4 (X = Si, Ge, Sn) Family as New Promising Materials for Optoelectronic Devices

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Nematov, Dilshod
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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