DeepBessel: deep learning-based full-field vibration profilometry using single-shot time-averaged interference microscopy

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Cywinska, Maria, Forjasz, Wiktor, Wdowiak, Emilia, Jozwik, Michal, Styk, Adam, Patorski, Krzysztof, Trusiak, Maciej
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Optics
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https://arxiv.org/abs/2601.03830