DeepBessel: deep learning-based full-field vibration profilometry using single-shot time-averaged interference microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Cywinska, Maria, Forjasz, Wiktor, Wdowiak, Emilia, Jozwik, Michal, Styk, Adam, Patorski, Krzysztof, Trusiak, Maciej
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Optics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2601.03830