LIDL: LLM Integration Defect Localization via Knowledge Graph-Enhanced Multi-Agent Analysis

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Tan, Gou, He, Zilong, Li, Min, Chen, Pengfei, Shi, Jieke, Sun, Zhensu, Zhang, Ting, Chen, Danwen, Shar, Lwin Khin, Zhang, Chuanfu, Lo, David
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Software Engineering
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https://arxiv.org/abs/2601.05539