Measuring Nanoscale Torques with Cylindrical-Polarization-based Interferometric Scattering Microscopy

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Vala, Milan, Kopal, Ivan, Takiguchi, Lauren, Shaidiuk, Yevhenii, Lužný, Vítězslav, Bujak, Łukasz, Kosuri, Pallav, Piliarik, Marek
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Optics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2601.08373