Reliability Modeling of Single-Sided Aluminized Polyimide Films during Storage Considering Stress-Induced Degradation Mechanism Transition

Fuente: arXiv
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Autori principali: Chen, Shi-Shun, Niu, Dong-Hua, Chen, Wen-Bin, Song, Jia-Yun, Zhang, Ya-Fei, Li, Xiao-Yang, Zio, Enrico
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
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