Interface effects and dielectric mismatch in ultrathin silicon on insulator films

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Pulici, Andrea, Seguini, Gabriele, Taglietti, Fabiana, Gumeniuk, Roman, Chiarcos, Riccardo, Laus, Michele, Heitmann, Johannes, Fanciulli, Marco, Perego, Michele
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Mesoscale and Nanoscale Physics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2601.09379