Geometric dependence of exchange bias in tilted three-dimensional CoFe/IrMn microwires

Fuente: arXiv

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Auteurs principaux:	Singh, Balram, Singh, Aman, Mikulik, Stefan, Jurczyk, Jakub, Neu, Volker, Fernández-Pacheco, Amalio
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2601.09653