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Radiation tolerance tests on key components of the ePIC-dRICH readout card

Fuente: arXiv
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Main Authors: Geminiani, S., Achari, B. R., Agrawal, N., Alexeev, M., Alice, C., Ammendola, R., Antonioli, P., Baldanza, C., Barion, L., Biagioni, A., Calivà, A., Capua, M., Capuani, F., Ciardiello, A., Cisbani, E., Chiosso, M., Contalbrigo, M., Cossio, F., Rolo, M. Da Rocha, De Caro, A., De Gruttola, D., Dellacasa, G., Falchieri, D., Fazio, S., Frezza, O., Funicello, N., Garbini, M., Jacazio, N., Cicero, F. Lo, Lonardo, A., Malaguti, R., Mammoliti, F., Martinelli, M., Mignone, M., Mingioni, C., Nenni, M., Noto, F., Occhiuto, L., Paladino, A., Panzieri, D., Perticaroli, P., Plavully, S., Polizzi, L., Pontisso, L., Preghenella, R., Ricci, R., Rignanese, L., Ripoli, C., Rossi, C., Rovati, E., Rubini, N., Ruspa, M., Saputi, A., Simula, F., Spizzo, F., Tamponi, U., Tassi, E., Torromeo, G., Tuvè, C., Urciuoli, G. M., Vallarino, S., Vicini, P., Wheadon, R.
Format: Preprint
Published: 2026
Subjects:
Instrumentation and Detectors
Online Access:
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