A Field-Weighted model for Surface Layer Characterization using Single Channel Intensity Interrogation SPR

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chen, Zhiying, Luo, Zihao, Sun, Changsen, Kiesewetter, Dmitry, Krivosheev, Sergey, Magazinov, Sergey, Malyugin, Victor, Han, Xue
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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