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A Field-Weighted model for Surface Layer Characterization using Single Channel Intensity Interrogation SPR

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Chen, Zhiying, Luo, Zihao, Sun, Changsen, Kiesewetter, Dmitry, Krivosheev, Sergey, Magazinov, Sergey, Malyugin, Victor, Han, Xue
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Optics
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