Towards Self-Optimizing Electron Microscope: Robust Tuning of Aberration Coefficients via Physics-Aware Multi-Objective Bayesian Optimization

Fuente: arXiv
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Autori principali: Pratiush, Utkarsh, Houston, Austin, Liu, Richard, Duscher, Gerd, Kalinin, Sergei
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
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