Symmetry Adapted Analysis of Screw Dislocation: Electronic Structure and Carrier Recombination Mechanisms in GaN

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Xie, Yuncheng, Shi, Haozhe, Huang, Menglin, Chu, Weibin, Chen, Shiyou, Gong, Xin-Gao
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!