MetricAnything: Scaling Metric Depth Pretraining with Noisy Heterogeneous Sources

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Ma, Baorui, Yang, Jiahui, Di, Donglin, Zhang, Xuancheng, Cui, Jianxun, Li, Hao, Xie, Yan, Chen, Wei
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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