Just-in-Time Catching Test Generation at Meta

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Becker, Matthew, Chen, Yifei, Cochran, Nicholas, Ghasemi, Pouyan, Gulati, Abhishek, Harman, Mark, Haluza, Zachary, Honarkhah, Mehrdad, Robert, Herve, Liu, Jiacheng, Liu, Weini, Thummala, Sreeja, Yang, Xiaoning, Xin, Rui, Zeng, Sophie
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Software Engineering Artificial Intelligence
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2601.22832