Quantum Metric Length as a Fundamental Length Scale in Disordered Flat Band Materials

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chau, Chun Wang, Xiang, Tian, Chen, Shuai A., Law, K. T.
Formato: Preprint
Publicado: 2026
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!