Unbounded Systematic Error in Thin Film Conductivity Measurements

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gao, Yongyi, Un, Hio-Ieng, Huang, Yuxuan, Sirringhaus, Henning, Jacobs, Ian E.
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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