Crystallinity Evolution of MOCVD-Grown $β$-Ga$_2$O$_3$ Films Probed by In Situ HT-XRD under Different Reactor Heights

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Rahaman, Imteaz, Li, Botong, Duersch, Bobby G., Ellis, Hunter D., Anderson, Kathy, Fu, Kai
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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