Shallow Trap States Control Electrical Performance of Amorphous Oxide Semiconductor Thin-Film Transistors

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Mattsson, Måns J., Lee, Jinhan, Malmberg, Christopher E., Parker, Jared, Vogt, Kyle T., Kim, Hyemi, Hong, Minji, Yun, Pilsang, Ha, Daewon, Lee, Taeyoon, Cheong, Paul H. -Y., Wager, John F., Graham, Matt W.
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Applied Physics Materials Science Instrumentation and Detectors
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2602.06329