Damage accumulation induced metal-insulator transition through ion implantation of ScN thin films

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Poterie, Charlotte, Marteau, Marc, Eklund, Per, Cabioch, Thierry, Barbot, Jean-Francois, Febvrier, Arnaud le
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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